產品時間：2021-12-15
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粉塵粒度分析儀 含真密度裝置 MK2-MD-1
粉塵粒度分析儀采用斯托克斯原理和比爾定律測定粉塵粒度分布(分散度)。與常規(guī)方法相比省去天平稱重和顯微鏡數(shù)數(shù)等繁雜工作。讀數(shù)直觀，測定結果自動儲存，也可由用戶根據(jù)需要選擇，把結果通過顯示屏或打印機輸出。
儀器具有掉電保護功能，可儲存40 次粒度分布數(shù)據(jù)，儲存的數(shù)據(jù)可根據(jù)用戶意圖進行清除。是粉塵實驗室使用的儀器。
粉塵粒度分析儀 含真密度裝置 MK2-MD-1
粉塵粒度分析儀主要技術指標：
粉塵粒度分布測定范圍：0～150µm(測定粉塵累積質量篩上分布，粉塵粒度分級為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1µm)
測定誤差：d<40µm時，粉塵粒度分布重復測定誤差≤10%，
粉塵粒度測量誤差(120004a微粒標準物質為試驗粉塵)：d50=10～13μm
工作電源：220V AC 外形尺寸：(430×285×300)mm
重量：15kg
